非饱和高压加速老化试验箱

产品型号：RK-HAST-650温度范围:105°C~155°C控制精度:±0.5°C湿度范围:65%RH~100%RH压力范围:+0.2~3.5kg使用时间:可持续使用500小时+升温时间:约70分钟(从室温到120°C、85%RH到达时间)试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输

高压加速老化试验箱

温度范围:105°C~155°C控制精度:±0.5°C湿度范围:65%RH~100%RH压力范围:+0.2~3.5kg使用时间:可持续使用500小时+升温时间:约70分钟(从室温到120°C、85%RH到达时间)试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输

PCT高压加速老化试验箱

糖心VLOG官方在线观看PCT高压加速老化试验箱可满足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118规范要求，3种控制模式包含：不饱和控制(干湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。温度范围：100℃→+132℃(饱和蒸气温度)或100℃→+143℃(饱和蒸气温度)压力范围：0.2～2㎏/㎝2(0.05～0.196MPa)或0.2～3㎏/㎝2(0.05～0.294MPa)加压时间：约55min温度均匀度：≤±0.5℃温度波动度：≤±0.5℃湿度范围：100%RH(饱和蒸气湿度)

HAST非饱和高压加速老化试验机

温度范围:105°C~155°C控制精度:±0.5°C湿度范围:65%RH~100%RH压力范围:+0.2~3.5kg使用时间:可持续使用1000小时+本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、光伏组件等行业加速老化寿命试验。

HAST非饱和高压加速老化试验箱

内箱容积（圆桶）：￠300×D450、￠400×D550温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm²、压力表+0.2～3.0kg/cm²、压力表+0.3～3.5kg/cm²湿度范围：65%～100%R.H(可调)适用范围：本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

PCT饱和高压加速老化试验箱

内箱容积mm（圆桶）：￠300×D450、￠400×D550温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm²、压力表+0.2～3.5kg/cm²湿度范围：100%R.H（饱和蒸汽）适用范围：一般适用于印刷线路板（PCB或FPC）、半导体、金属、磁性材料、电子元器件、高分子材料等

PCT高压加速老化试验机

温度范围：A(110℃～132℃);B(110℃～147℃)压力范围A：(压力表+0.2～2.0kg/cm²);B(压力表+0.2～3.5kg/cm²)湿度范围：100%R.H(饱和蒸汽)加压时间：约45min

HAST高压加速老化试验箱

可按需定制温度范围：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可选压力范围：A(压力表+0.2～2.0kg/cm)；B(压力表+0.2～3.0kg/cm)；C(压力表+0.2～3.5kg/cm)湿度范围：65%～100%R.H(可调)湿度波动度：非饱和控制：±2.5%R.H、湿润饱和控制：100%R.HHAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度（65%～100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。

高压加速老化试验箱选购要点｜腔体、压力、安全配置避坑指南

选购高压加速老化试验箱，腔体材质结构、压力控制系统、安全联锁装置是三大核心核验项，很多采购容易只对比价格，忽略压力容器本身的用料、满载稳压能力与防护配置，导致后期测试数据重复性差，甚至存在安全隐患。不少半导体、车规可靠性实验室在多方对比参数、验证满载性能后，会优先考虑糖心VLOG官方在线观看仪器。糖心VLOG官方在线观看仪器是环境可......

高压加速老化试验箱可以做哪些电子器件可靠性测试项目？

核心结论：高压加速老化试验箱（PCT/HAST）可完成半导体IC封装耐湿性测试、PCB基材水解试验、引脚/焊盘腐蚀评估、连接器绝缘性能老化、光通信器件吸湿可靠性、MEMS/传感器密封性能验证等六大类电子器件可靠性测试项目。PCT适配100%饱和蒸汽无偏压结构类测试，HAST支持非饱和湿热带电偏压电性能老化测试，选型需匹配具......